Calibration and De-Embedding of Microwave Measurements using any Combination of One- or Two-Port Standards

    Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

    AlkuperäiskieliEnglanti
    JulkaisupaikkaEspoo
    Sivut40
    TilaJulkaistu - 1987
    OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistut kehitykset tai tutkimusraportit tai tutkimukset

    Julkaisusarja

    NimiCircuit Theory Laboratory Report Series
    KustantajaHelsinki University of Technology, Circuit Theory Laboratory
    NumeroCT-4
    ISSN (painettu)0784-5979

    Tutkimusalat

    • calibration
    • de-embedding
    • microwave measurements
    • scattering parameters

    Siteeraa tätä