Abstrakti
Impedanssitomografiassa (EIT) kappaleen reunanmuodon ja elektrodien sijaintienepätarkka mallinnus pilaa tavallisesti johtavuuden rekonstruktion. Väitöskirjassa esitelläänuusi (reunan)muotoanalyysiin perustuva menetelmä, joka mahdollistaa mittausgeometrianreaaliaikaisen sovittamisen dataan.
Työssä osoitetaan, että EIT:n täydellisen elektrodimallin (CEM) suoran ongelman ratkaisuon Fréchet-derivoituva sekä kappaleen reunanmuodon että elektrodien sijaintien suhteen.Johtavuusjakauma ja mittausgeometria rekonstruoidaan yhtäaikaisesti Newton-tyyppiselläneliösumman minimointialgoritmilla. Tarvittavat gradientit voidaan laskea tehokkaastiduaalitekniikan avulla. Muotoanalyyttisiä menetelmiä sovelletaan myös optimaalisen EIT-mittauksen suunnitteluun, missä elektrodien sijainnit optimoidaan numeerisestiposteriorikovarianssiin liittyvien Bayesiläisten kriteerien mukaisesti.
Erityistä huomiota kiinnitetään CEM:n Sobolev-säännöllisyysominaisuuksiin, jotka ovatolennaisia työssä sovelletun muotoanalyysin kannalta. Sobolev-avaruuksien väliselläinterpolaatiolla osoitetaan, että CEM on perturboitu versio eräästä ideaalisestaelektrodimallista (shunt-malli). Tästä tuloksesta voidaan päätellä muotoderivaattojennumeerisen approksimoinnin epästabiilius, mikäli kontaktiresistanssit ovat pieniä.
Julkaisun otsikon käännös | Reunanmuotoanalyysin sovelluksia impedanssitomografiaan |
---|---|
Alkuperäiskieli | Englanti |
Pätevyys | Tohtorintutkinto |
Myöntävä instituutio |
|
Valvoja/neuvonantaja |
|
Kustantaja | |
Painoksen ISBN | 978-952-60-5862-7 |
Sähköinen ISBN | 978-952-60-5863-4 |
Tila | Julkaistu - 2014 |
OKM-julkaisutyyppi | G5 Artikkeliväitöskirja |
Tutkimusalat
- inversio-ongelmat
- impedanssitomografia
- täydellinen elektrodimalli
- muotoanalyysi
- optimaalinen kokeiden suunnittelu
- Bayesiläinen inversio
- elliptiset reuna-arvo-ongelmat
- sekareunaehdot