Bayesian Neural Network to Solve the Inverse Problem in Electrical Impedance Tomography

J. Lampinen, A. Vehtari, K. Leinonen

    Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference article in proceedingsScientificvertaisarvioitu

    AlkuperäiskieliEnglanti
    OtsikkoSCIA´99, 11th Scandinavian donference on image analysis, June 7-11, Kangerlussuaq, Geenland
    ToimittajatB. K. Ersboll, P. Johansen
    JulkaisupaikkaKangerlussuaq, Greenland
    KustantajaPattern Recognition Society of Denmark
    Sivut87-93
    TilaJulkaistu - 1999
    OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

    Tutkimusalat

    • Bayesian methods
    • electrical impedance tomography
    • inverse problems
    • tomographic imaging

    Siteeraa tätä