Backcalculation of Layer Moduli using Time History of Embedded Gauge Readings

E. Levenberg, R. McDaniel, Terhi Pellinen

    Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientificvertaisarvioitu

    AlkuperäiskieliEnglanti
    OtsikkoThird International Conference on Accelerated Pavement Testing, Madrid, Spain, 1.-3.10.2008
    TilaJulkaistu - 2008
    OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa

    Siteeraa tätä