Application of stochastic Galerkin FEM to the complete electrode model of electrical impedance tomography

Matti Leinonen, Harri Hakula, Nuutti Hyvonen

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

11 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut181-200
JulkaisuJournal of Computational Physics
Vuosikerta269
Numero1
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2014
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Tutkimusalat

  • complete electrode model
  • electrical impedance tomography
  • elliptic stochastic PDE
  • log-normal random fields

Siteeraa tätä