Application of in situ UV-vis spectroscopy and an in situ dc resistance measurement technique to the study of a poly(thiophene-3-methanol) film

E. Lankinen, M. Pohjakallio, Göran Sundholm, P. Talonen, Timo Laitinen, T. Saario

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    32 Sitaatiot (Scopus)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut167-174
    JulkaisuJournal of Electroanalytical Chemistry
    Vuosikerta437
    TilaJulkaistu - 1997
    OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

    • UV-VIS spectroscopy

    Siteeraa tätä