An inverse scattering technique for microwave imaging of binary objects

Ioannis T. Rekanos, T.D. Tsiboukis

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    18 Sitaatiot (Scopus)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut1439-1441
    JulkaisuIEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
    Vuosikerta50
    Numero5
    TilaJulkaistu - 2002
    OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

    • binary objects
    • finite element
    • iverse scattering
    • microwave imaging
    • sensitivity analysis

    Siteeraa tätä