An accurate measurement of electron beam induced displacement cross sections for single-layer graphene

J.C. Meyer, F. Eder, S. Kurasch, V. Skakalova, J. Kotakoski, H.J. Park, Siegmar Roth, A. Chuvilin, S. Eyhusen, G. Benner, A.V. Krasheninnikov, U. Kaiser

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

304 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
JulkaisuPhysical Review Letters
Vuosikerta108
TilaJulkaistu - 2012
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Tutkimusalat

  • graphene

Siteeraa tätä