AFM-atomitason mikroskopiaa mekaanisella koettimella

A. Leijala

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut46-48
    JulkaisuDimensio
    Vuosikerta59
    Numero6
    TilaJulkaistu - 1995
    OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

    • AFM
    • atomic force microscopy

    Siteeraa tätä