AES and XPS study of the structure of ALE-deposited SnOx thin films

E.B. Varhegyi, F. Reti, M. Utriainen, V.K. Josepovits, I.V. Perczel, G. Kiss, L. Niinistö, P. Deak

    Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut85-88
    TilaJulkaistu - 1996
    OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistut kehitykset tai tutkimusraportit tai tutkimukset

    Julkaisusarja

    NimiECASIA 95, 6th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis, Montreux, Sveitsi, 9.-13.10.1995
    KustantajaWiley

    Tutkimusalat

    • aes
    • ale
    • Auger
    • esca
    • thin film
    • tin oxide
    • xps

    Siteeraa tätä

    Varhegyi, E. B., Reti, F., Utriainen, M., Josepovits, V. K., Perczel, I. V., Kiss, G., Niinistö, L., & Deak, P. (1996). AES and XPS study of the structure of ALE-deposited SnOx thin films. (Sivut 85-88). (ECASIA 95, 6th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis, Montreux, Sveitsi, 9.-13.10.1995).