Advanced Flaw Manufacturing and Crack Growth Control

M. Kemppainen, J. Pitkänen, Iikka Virkkunen, Hannu Hänninen

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoProceedings of the Review of Progress in Quantitive Nondestructive Evaluation Conference
ToimittajatD.O. Thompson, D.E. Chimenti
KustantajaAmerican Institute of Physics
Sivut1272-1279
Sivumäärä8
Vuosikerta23
ISBN (painettu)0-7354-0173-X
TilaJulkaistu - 2004
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa
TapahtumaAnnual Review of Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation - Green Bay, Yhdysvallat
Kesto: 27 heinäkuuta 20031 elokuuta 2003
Konferenssinumero: 30

Conference

ConferenceAnnual Review of Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation
LyhennettäQNDE
MaaYhdysvallat
KaupunkiGreen Bay
Ajanjakso27/07/200301/08/2003

Tutkimusalat

  • crack growth
  • flaw manufacturing

Siteeraa tätä