ADC post-compensation using a Hammerstein model

Christian Schmidt, Juan E. Cousseau, Jose L. Figueroa, Risto Wichman, Stefan Werner

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientificvertaisarvioitu

3 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoMicro-Nanoelectronics, Technology and Applications, 2009. EAMTA 2009.Argentine School of1-2 Oct. 2009
Sivut71-76
TilaJulkaistu - 2009
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa

Siteeraa tätä