Adaptive Sub-Threshold Test Circuit

Matthew Turnquist, Erkka Laulainen, Jani Mäkipää, Hannu Tenhunen, Lauri Koskinen

    Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientificvertaisarvioitu

    1 Sitaatiot (Scopus)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    OtsikkoIEEE NASA/ESA Conference on Adaptive Hardware and Systems, San Francisco, CA, July 2009
    Sivut197-203
    TilaJulkaistu - 2009
    OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa

    Tutkimusalat

    • low power
    • low voltage
    • sub-threshold
    • subthreshold,
    • weak inversion

    Siteeraa tätä