Adaptive Control of Distillation Column using Adaptive Critic Design

Petia Koprinkova-Hristova, Yancho Todorov, Marius Olteanu, Nikolae Paraschiv, Margarita Terziyska

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientificvertaisarvioitu

Abstrakti

The paper aims at synthesis of an adaptive controller of the distillate output flow rate of a binary distillation column. The disturbance of the process is the change of concentration of the inlet compound. Intelligent approach called Adaptive Critic Design (ACD) was applied to predict on time the effect of disturbance and to adapt the distillate output flow rate in order to prevent deviations from the desired distillate concentration. The key element of ACD – the critic – is a fast trainable recurrent neural network called Echo state network (ESN). The simulation investigations demonstrated that the proposed adaptive control scheme outperforms a classical non-adaptive controller with respect to the settling time and the reaction delay.
AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoProceedings of the 2017 21st International Conference on Process Control
KustantajaIEEE
ISBN (elektroninen)978-1-5386-4011-1
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 17 heinäkuuta 2017
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa
TapahtumaInternational Conference on Process Control - Štrbské Pleso, Slovakia
Kesto: 6 kesäkuuta 20179 kesäkuuta 2017
Konferenssinumero: 21
http://www.kirp.chtf.stuba.sk/pc17/

Conference

ConferenceInternational Conference on Process Control
MaaSlovakia
KaupunkiŠtrbské Pleso
Ajanjakso06/06/201709/06/2017
www-osoite

Sormenjälki Sukella tutkimusaiheisiin 'Adaptive Control of Distillation Column using Adaptive Critic Design'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

  • Siteeraa tätä

    Koprinkova-Hristova, P., Todorov, Y., Olteanu, M., Paraschiv, N., & Terziyska, M. (2017). Adaptive Control of Distillation Column using Adaptive Critic Design. teoksessa Proceedings of the 2017 21st International Conference on Process Control IEEE. https://doi.org/10.1109/PC.2017.7976253