Accelerated light-induced degradation for detecting copper contamination in p-type silicon

Alessandro Inglese, Jeanette Lindroos, Hele Savin

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

16 Sitaatiot (Scopus)
35 Lataukset (Pure)
AlkuperäiskieliEnglanti
JulkaisuApplied Physics Letters
Vuosikerta107
Numero5
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2015
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Tutkimusalat

  • accelerated light-induced degradation
  • copper defects
  • copper recovery

Siteeraa tätä