Aberration-insensitive microscopy using optical field-correlation imaging

E. Ilina, M. Nyman, I. Švagždyte, N. Chekurov, M. Kaivola, T. Setälä, A. Shevchenko

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

9 Sitaatiot (Scopus)
189 Lataukset (Pure)

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Aberration-insensitive microscopy using optical field-correlation imaging'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Physics

Material Science