Aberration-insensitive microscopy using optical field-correlation imaging

E. Ilina, M. Nyman, I. Švagždyte, N. Chekurov, M. Kaivola, T. Setälä, A. Shevchenko

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

9 Sitaatiot (Scopus)
189 Lataukset (Pure)

Hakutulokset