A simple method for on-wafer antenna gain measurement

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientificvertaisarvioitu

7 Sitaatiot (Scopus)

Abstrakti

This paper presents a simple on-wafer antenna gain and radiation pattern measurement method in the probe station environment. It needs only the antenna under test (AUT) itself, a vector network analyzer, and a metal strip for the measurement procedure. The measurement and simulation gain results at E-band match very well in the resonance frequency band, with a difference less than 1 dB.
AlkuperäiskieliEnglanti
Otsikko2017 Progress In Electromagnetics Research Symposium — Spring (PIERS)
KustantajaIEEE
Sivut1620 - 1624
ISBN (elektroninen)978-1-5090-6269-0
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2017
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa
TapahtumaProgress in Electromagnetics Research Symposium - St. Petersburg, Venäjä
Kesto: 22 toukok. 201725 toukok. 2017

Conference

ConferenceProgress in Electromagnetics Research Symposium
LyhennettäPIERS
Maa/AlueVenäjä
KaupunkiSt. Petersburg
Ajanjakso22/05/201725/05/2017

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'A simple method for on-wafer antenna gain measurement'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Siteeraa tätä