A New Method to Measure the Thickness of a Thin Film by Total Internal Reflection Raman or Attenuated Total Reflection Infrared Spectroscopy

Antti Kivioja; Anna-Stiina Jääskeläinen; Tapani Vuorinen

A New Method to Measure the Thickness of a Thin Film by Total Internal Reflection Raman or Attenuated Total Reflection Infrared Spectroscopy

Antti Kivioja, Anna-Stiina Jääskeläinen, Tapani Vuorinen

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Conference contribution › Scientific › vertaisarvioitu

Alkuperäiskieli	Englanti
Otsikko	FACSS 2011, Reno, NV, USA, 2. - 7.10.2011
Toimittajat	Doug Gilman
Julkaisupaikka	Santa Fe, NM
Kustantaja	Federation of Analytical Chemistry and Spectroscopy Societies (FACSS)
Sivut	141
Tila	Julkaistu - 2011
OKM-julkaisutyyppi	A4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa

OpenUrl-saatavuus

Koko teksti

Siteeraa tätä

Kivioja, Antti ; Jääskeläinen, Anna-Stiina ; Vuorinen, Tapani. / A New Method to Measure the Thickness of a Thin Film by Total Internal Reflection Raman or Attenuated Total Reflection Infrared Spectroscopy. FACSS 2011, Reno, NV, USA, 2. - 7.10.2011. Toimittaja / Doug Gilman. Santa Fe, NM : Federation of Analytical Chemistry and Spectroscopy Societies (FACSS), 2011. Sivut 141

@inproceedings{8198df3e0a5d410d84a83a4935de1be8,

title = "A New Method to Measure the Thickness of a Thin Film by Total Internal Reflection Raman or Attenuated Total Reflection Infrared Spectroscopy",

author = "Antti Kivioja and Anna-Stiina J{\"a}{\"a}skel{\"a}inen and Tapani Vuorinen",

year = "2011",

language = "English",

pages = "141",

editor = "Doug Gilman",

booktitle = "FACSS 2011, Reno, NV, USA, 2. - 7.10.2011",

publisher = "Federation of Analytical Chemistry and Spectroscopy Societies (FACSS)",

address = "United States",

}

A New Method to Measure the Thickness of a Thin Film by Total Internal Reflection Raman or Attenuated Total Reflection Infrared Spectroscopy. / Kivioja, Antti; Jääskeläinen, Anna-Stiina; Vuorinen, Tapani.
FACSS 2011, Reno, NV, USA, 2. - 7.10.2011. toim. / Doug Gilman. Santa Fe, NM: Federation of Analytical Chemistry and Spectroscopy Societies (FACSS), 2011. s. 141.

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Conference contribution › Scientific › vertaisarvioitu

TY - GEN

T1 - A New Method to Measure the Thickness of a Thin Film by Total Internal Reflection Raman or Attenuated Total Reflection Infrared Spectroscopy

AU - Kivioja, Antti

AU - Jääskeläinen, Anna-Stiina

AU - Vuorinen, Tapani

PY - 2011

Y1 - 2011

M3 - Conference contribution

SP - 141

BT - FACSS 2011, Reno, NV, USA, 2. - 7.10.2011

A2 - Gilman, Doug

PB - Federation of Analytical Chemistry and Spectroscopy Societies (FACSS)

CY - Santa Fe, NM

ER -