A new dual driver planar eddy current probe with dynamically controlled induction pattern

Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli

Tutkijat

Organisaatiot

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut29-37
JulkaisuNDT & E INTERNATIONAL
Vuosikerta70
NumeroMarch
TilaJulkaistu - 2015
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

  • differential probe, dynamic inductionpattern, Eddy currentstesting, planar probe, reflection probe

ID: 1978514