A humidity-induced novel failure mechanism in power semiconductor diodes

J. Leppänen*, G. Ross, V. Vuorinen, J. Ingman, J. Jormanainen, M. Paulasto-Kröckel

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

2 Sitaatiot (Scopus)
184 Lataukset (Pure)

Hakutulokset