A calibration-free method to assess the quality of standards for THz on-wafer measurements

Maxim Masyukov, Irina Nefedova, Aleksi Tamminen, Kimmo Silvonen, Juan Cabello-Sanchez, Mikko Varonen, Mikko Kantanen, Helena Rodilla, Jan Stake, Zachary Taylor

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaAbstractScientificvertaisarvioitu

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'A calibration-free method to assess the quality of standards for THz on-wafer measurements'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Physics