A calibration-free method to assess the quality of standards for THz on-wafer measurements

Maxim Masyukov, Irina Nefedova, Aleksi Tamminen, Kimmo Silvonen, Juan Cabello-Sanchez, Mikko Varonen, Mikko Kantanen, Helena Rodilla, Jan Stake, Zachary Taylor

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaAbstractScientificvertaisarvioitu

Abstrakti

A method to assess the quality of the calibration standards has been developed and tested. The actual response of the tested transmission lines for LRRM-16 calibration approach has been simulated in HFSS environment, fabricated, and tested with on-wafer measurement setup. The method for quality assessment is based on the properties of similar matrices, that compares traces and determinants of the S-parameters products for fabricated and simulated structures.

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivumäärä2
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2022
OKM-julkaisutyyppiEi sovellu
TapahtumaInternational Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves - Delft, Alankomaat
Kesto: 28 elok. 20222 syysk. 2022
Konferenssinumero: 47

Conference

ConferenceInternational Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves
LyhennettäIRMMW-THz
Maa/AlueAlankomaat
KaupunkiDelft
Ajanjakso28/08/202202/09/2022

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'A calibration-free method to assess the quality of standards for THz on-wafer measurements'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Siteeraa tätä