Riddle of light induced degradation in silicon photovoltaics

Savin, Hele (Vastuullinen tutkija)
Yli-Koski, Marko (Projektin jäsen)
Vahlman, Henri (Projektin jäsen)
Inglese, Alessandro (Projektin jäsen)
Modanese, Chiara (Projektin jäsen)
Lindroos, Jeanette (Projektin jäsen)
Nampalli, Nitin (Projektin jäsen)
Huang, Haibing (Projektin jäsen)
von Gastrow, Guillaume (Projektin jäsen)
Vähänissi, Ville (Projektin jäsen)
Rauha, Ismo (Projektin jäsen)
Laine, Hannu (Projektin jäsen)

5 Article
4 Abstract
1 Conference contribution
1 Conference article

11 tulosta

2019

(poster) Low-T anneal as cure for LeTID in Mc-Si PERC cells
Yli-Koski, M., Pasanen, T. P., Heikkinen, I., Serué, M. & Savin, H., 2019.
Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Abstract › Scientific › vertaisarvioitu
Impact of Black Silicon on Light- and Elevated Temperature-Induced Degradation in Industrial Passivated Emitter and Rear Cells
Pasanen, T., Modanese, C., Vähänissi, V., Laine, H., Wolny, F., Oehlke, A., Kusterer, C., Heikkinen, I. T. S., Wagner, M. & Savin, H., 21 lokak. 2019, julkaisussa: Progress in Photovoltaics. 27, 11, s. 918-925 14 Sivumäärä
Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu

Open access
Tiedosto
6 Sitaatiot (Scopus)

177 Lataukset (Pure)
Low-T anneal as cure for LeTID in Mc-Si PERC cells
Yli-Koski, M., Pasanen, T. P., Heikkinen, I., Serué, M. & Savin, H., 27 elok. 2019, julkaisussa: AIP CONFERENCE PROCEEDINGS. 2147, 1, 140013.
Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Conference article › Scientific › vertaisarvioitu

Open access
Tiedosto
5 Sitaatiot (Scopus)

90 Lataukset (Pure)
Low-temperature dark anneal as pre-treatment for LeTID in multicrystalline silicon
Yli-Koski, M., Serué, M., Modanese, C., Vahlman, H. & Savin, H., 1 huhtik. 2019, julkaisussa: Solar Energy Materials and Solar Cells. 192, s. 134-139 6 Sivumäärä
Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu

Open access
Tiedosto
18 Sitaatiot (Scopus)

271 Lataukset (Pure)
2018

(oral talk) Vertically integrated modeling of light-induced defects: Process modeling, degradation kinetics and device impact
Laine, H. S., Vahlman, H., Haarahiltunen, A., Jensen, M. A., Modanese, C., Wagner, M., Wolny, F., Buonassisi, T. & Savin, H., 2018.
Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Abstract › Scientific › vertaisarvioitu
(poster) Copper-Related Light Induced Degradation Activated by Firing
Nampalli, N., Laine, H. S., Colwell, J., Vähänissi, V., Inglese, A., Modanese, C., Vahlman, H., Yli-Koski, M. & Savin, H., 2018.
Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Abstract › Scientific › vertaisarvioitu
(poster) Impact of copper on light-induced degradation in Czochralski silicon PERC solar cells
Modanese, C., Wagner, M., Wolny, F., Oehlke, A., Laine, H. S., Inglese, A., Vahlman, H., Yli-Koski, M. & Savin, H., 2018.
Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Abstract › Scientific › vertaisarvioitu
Impact of copper on light-induced degradation in Czochralski silicon PERC solar cells
Modanese, C., Wagner, M., Wolny, F., Oehlke, A., Laine, H. S., Inglese, A., Vahlman, H., Yli-Koski, M. & Savin, H., 1 marrask. 2018, julkaisussa: Solar Energy Materials and Solar Cells. 186, s. 373-377 5 Sivumäärä
Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu

Open access
Tiedosto
13 Sitaatiot (Scopus)

85 Lataukset (Pure)
Moving Beyond p-Type mc-Si: Quantified Measurements of Iron Content and Lifetime of Iron-Rich Precipitates in n-Type Silicon
Morishige, A. E., Heinz, F. D., Laine, H. S., Schon, J., Kwapil, W., Lai, B., Savin, H., Schubert, M. C. & Buonassisi, T., 2018, julkaisussa: IEEE Journal of Photovoltaics. 8, 6, s. 1525 - 1530 6 Sivumäärä
Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu
3 Sitaatiot (Scopus)
Rapid thermal anneal activates light induced degradation due to copper redistribution
Nampalli, N., Laine, H. S., Colwell, J., Vähänissi, V., Inglese, A., Modanese, C., Vahlman, H., Yli-Koski, M. & Savin, H., 16 heinäk. 2018, julkaisussa: Applied Physics Letters. 113, 3, 032104.
Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu

Open access
Tiedosto
4 Sitaatiot (Scopus)

168 Lataukset (Pure)
Vertically integrated modeling of light-induced defects: Process modeling, degradation kinetics and device impact
Laine, H. S., Vahlman, H., Haarahiltunen, A., Jensen, M. A., Modanese, C., Wagner, M., Wolny, F., Buonassisi, T. & Savin, H., 10 elok. 2018, AIP Conference Proceedings. American Institute of Physics, Vuosikerta 1999. 020016
Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Conference contribution › Scientific › vertaisarvioitu

Open access
Tiedosto
84 Lataukset (Pure)

Riddle of light induced degradation in silicon photovoltaics

Tutkimustuotos

Hakutulokset