Siirry päänavigointiin
Siirry hakuun
Siirry pääsisältöön
Aalto-yliopiston tutkimusportaaliin Etusivu
ACRIS-ohjeet
English
Suomi
Etusivu
Profiilit
Julkaisut ja taiteelliset tuotokset
Tutkimusaineistot ja ohjelmistot
Projektit
Palkinnot
Aktiviteetit
Lehtileikkeet
Tutkimusinfrastruktuurit
Tutkimusyksiköt
Vaikuttavuudet
Haku asiantuntemuksen, nimen tai kytköksen perusteella
Sensitive method for characterising copper contamination in silicon
Savin, Hele
(Vastuullinen tutkija)
Electron Physics Group (EPG)
Sähkötekniikan ja automaation laitos
Yleiskatsaus
Projektin yksityiskohdat
Lyhytotsikko
CUOSI
Akronyymi
CUOSI
Tila
Päättynyt
Todellinen alku/loppupvm
01/01/2007
→
31/12/2010
Näytä kaikki
Näytä vähemmän