Graphene Flagship Core Project 2

Projektin yksityiskohdat

LyhytotsikkoGrapheneCore2
AkronyymiGrapheneCore2
TilaKäynnissä
Todellinen alku/loppupvm01/04/201830/09/2020

Tutkimustuotos

Fermi velocity renormalization in graphene probed by terahertz time-domain spectroscopy

Whelan, P. R., Shen, Q., Zhou, B., Serrano, I. G., Kamalakar, M. V., MacKenzie, D. M. A., Ji, J., Huang, D., Shi, H., Luo, D., Wang, M., Ruoff, R. S., Jauho, A. P., Jepsen, P. U., Bøggild, P. & Caridad, J. M., heinäkuuta 2020, julkaisussa : 2D Materials. 7, 3, 035009.

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

  • Production and processing of graphene and related materials

    Backes, C., Abdelkader, A. M., Alonso, C., Andrieux-Ledier, A., Arenal, R., Azpeitia, J., Balakrishnan, N., Banszerus, L., Barjon, J., Bartali, R., Bellani, S., Berger, C., Berger, R., Ortega, M. M. B., Bernard, C., Beton, P. H., Beyer, A., Bianco, A., Bøggild, P., Bonaccorso, F. & 117 muuta, Barin, G. B., Botas, C., Bueno, R. A., Carriazo, D., Castellanos-Gomez, A., Christian, M., Ciesielski, A., Ciuk, T., Cole, M. T., Coleman, J., Coletti, C., Crema, L., Cun, H., Dasler, D., De Fazio, D., Díez, N., Drieschner, S., Duesberg, G. S., Fasel, R., Feng, X., Fina, A., Forti, S., Galiotis, C., Garberoglio, G., García, J. M., Garrido, J. A., Gibertini, M., Gölzhäuser, A., Gómez, J., Greber, T., Hauke, F., Hemmi, A., Hernandez-Rodriguez, I., Hirsch, A., Hodge, S. A., Huttel, Y., Jepsen, P. U., Jimenez, I., Kaiser, U., Kaplas, T., Kim, H. K., Kis, A., Papagelis, K., Kostarelos, K., Krajewska, A., Lee, K., Li, C., Lipsanen, H., Liscio, A., Lohe, M. R., Loiseau, A., Lombardi, L., López, M. F., Martin, O., Martín, C., Martínez, L., Martin-Gago, J. A., Martínez, J. I., Marzari, N., Mayoral, Á., McManus, J., Melucci, M., Méndez, J., Merino, C., Merino, P., Meyer, A. P., Miniussi, E., Miseikis, V., Mishra, N., Morandi, V., Munuera, C., Muñoz, R., Nolan, H., Ortolani, L., Ott, A. K., Palacio, I., Palermo, V., Parthenios, J., Pasternak, I., Patane, A., Prato, M., Prevost, H., Prudkovskiy, V., Pugno, N., Rojo, T., Rossi, A., Ruffieux, P., Samorì, P., Schué, L., Setijadi, E., Seyller, T., Speranza, G., Stampfer, C., Stenger, I., Strupinski, W., Svirko, Y., Taioli, S., Teo, K. B. K., Testi, M., Tomarchio, F., Tortello, M., Treossi, E., Turchanin, A., Vazquez, E., Villaro, E., Whelan, P. R., Xia, Z., Yakimova, R., Yang, S., Yazdi, G. R., Yim, C., Yoon, D., Zhang, X., Zhuang, X., Colombo, L., Ferrari, A. C. & Garcia-Hernandez, M., 29 tammikuuta 2020, julkaisussa : 2D Materials. 7, 2, 022001.

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliReview ArticleScientificvertaisarvioitu

    Open access
    Tiedosto
  • 7 Sitaatiot (Scopus)
    21 Lataukset (Pure)

    Wafer-scale graphene quality assessment using micro four-point probe mapping

    Mackenzie, D. M. A., Kalhauge, K. G., Whelan, P. R., Østergaard, F. W., Pasternak, I., Strupinski, W., Bøggild, P., Jepsen, P. U. & Petersen, D. H., 29 toukokuuta 2020, julkaisussa : Nanotechnology. 31, 22, 7 Sivumäärä, 225709.

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    Open access
    Tiedosto
  • 9 Lataukset (Pure)