Kidevirheiden aiheuttamat hajoamismekanismit nitridipuolijohdekomponenteissa.

Projektin yksityiskohdat

Tiivistelmä

Tässä projektissa tutkitaan nitridipohjaisten komponenttien puolijohdemateriaalista aiheutuvia hajoamismekanismeja. Tavoitteen saavuttamiseksi toteutetaan monialainen ohjelma, jossa yhdistetään kokeellista ja teoreettista materiaalifysiikan sekä nitridipuolijohteiden valmistuksen tutkimusta. Hanke tuottaa syvällistä tietoa nitridipuolijohteiden pistevirheistä, dislokaatioista sekä niiden vaikutuksesta komponenttien toimintaan. Hankkeessa kehitetään uusia puolijohdemateriaalien mittaus-, mallinnus- ja valmistustekniikoita yhteistyössä Suomen sekä maailman johtavien tutkimusryhmien kanssa. Tutkimuksen tavoitteena on selvittää merkittävimmät puolijohdemateriaalista aiheutuvat hajoamismekanismit, sekä kehitä niiden pohjalta valmistustekniikoita jotka mahdollistavat entistä tehokkaampien ja kestävämpien ledien valmistuksen yleisvalaistukseen.
LyhytotsikkoDeFaMe-cost
AkronyymiDeFaMe
TilaPäättynyt
Todellinen alku/loppupvm01/09/201631/08/2019