Traceable metrology of soft-X-ray to IR optical constants and nanofilms for advanced manufacturing

Sormenjälki

Tutustu tutkimuksen aiheisiin, joita tämä projekti koskee. Nämä merkinnät luodaan taustalla olevien stipendien/apurahojen perusteella. Yhdessä ne muodostavat ainutlaatuisen sormenjäljen.

Physics

Chemistry

Material Science