2004 SiWEDS Outstanding Research Award Silicon Wafer and Defect Engineering Centre, USA

    Palkinto: Palkinto tai huomionosoitus tuotoksesta

    Description

    ... in recognition of her exceptional technical contribution in the field of silicon material science.
    Myöntöpäivä2004
    Myöntävät organisaatiotNational Science Foundation

      Sormenjälki