Tutkimustuotoksia vuodessa
Tutkimustuotoksia vuodessa
Henkilökohtainen profiili
Asiantuntemus YK:n kestävän kehityksen tavoitteista
Vuonna 2015 YK:n jäsenvaltiot sopivat 17 maailmanlaajuisesta kestävän kehityksen tavoitteesta köyhyyden poistamiseksi, planeetan suojelemiseksi ja vaurauden takaamiseksi kaikille. Tämän henkilön työ edistää seuraavia kestävän kehityksen tavoitteita:
Koulutus / tieteellinen pätevyys
Doctoral degree, Engineering and Technology, Helsinki University of Technology
Myöntöpäivä: 22 marrask. 2004
Master's degree, Engineering and Technology, Helsinki University of Technology
Myöntöpäivä: 5 toukok. 1998
Sormenjälki
Sukella tutkimusaiheisiin, joissa Marko Yli-Koski on aktiivinen. Nämä aihemerkinnät ovat peräisin tämän henkilön teoksista. Yhdessä ne muodostavat ainutlaatuisen sormenjäljen.
- 1 Samanlaiset profiilit
Yhteistyöt ja huippututkimusalueet viimeisiltä viideltä vuodelta
Viimeisin maa-/aluetasolla toteutettu yhteistyö. Saat tarkempia lisätietoja pisteitä napauttamalla, tai
-
(oral talk) Controlling SiO2 thin film charge and interface defect density on germanium
Liu, H., Pasanen, T., Leiviskä, O., Isometsä, J., Fung, J., Yli-Koski, M., Miettinen, M., Laukkanen, P. J., Vähänissi, V. & Savin, H., 2023.Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Abstract › Scientific › vertaisarvioitu
-
Chemical Excitation of Silicon Photoconductors by Metal-Assisted Chemical Etching
Li, S., Ayedh, H. M., Yli-Koski, M., Vähänissi, V., Savin, H. & Oksanen, J., 2 maalisk. 2023, julkaisussa: Journal of Physical Chemistry C. 127, 8, s. 4072–4078 7 SivumääräTutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu
Open accessTiedosto9 Sitaatiot (Scopus)61 Lataukset (Pure) -
METHOD OF DECREASING AN EXCESS CARRIER INDUCED DEGRADATION IN A SILICON SUBSTRATE
Savin, H. (Keksijä), Haarahiltunen, A. (Keksijä) & Yli-Koski, M. (Keksijä), 7 heinäk. 2023, Patenttinumero EP 2761666 B1Tutkimustuotos: Patentti › Patent
-
Plasma-enhanced atomic layer deposited SiO2 enables positive thin film charge and surface recombination velocity of 1.3 cm/s on germanium
Liu, H., Pasanen, T., Leiviskä, O., Isometsä, J., Fung, J., Yli-Koski, M., Miettinen, M., Laukkanen, P., Vähänissi, V. & Savin, H., 9 toukok. 2023, julkaisussa: Applied Physics Letters. 122, 19, 191602.Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu
Open accessTiedosto5 Sitaatiot (Scopus)101 Lataukset (Pure) -
(poster) Reduction of defect density at Ge/Al2O3 interface using GeO2 interfacial layers
Isometsä, J., Fung, J., Pasanen, T., Liu, H., Leiviskä, O., Yli-Koski, M., Vähänissi, V. & Savin, H., 2022.Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Abstract › Scientific › vertaisarvioitu
-
Controlling SiO2 thin film charge and interface defect density on germanium
Liu, H. (Puhuja), Pasanen, T. (Kontribuuttori), Leiviskä, O. (Kontribuuttori), Isometsä, J. (Kontribuuttori), Fung, J. (Kontribuuttori), Yli-Koski, M. (Kontribuuttori), Miettinen, M. (Kontribuuttori), Laukkanen, P. (Kontribuuttori), Vähänissi, V. (Kontribuuttori) & Savin, H. (Kontribuuttori)
8 syysk. 2023Aktiviteetti: Konferenssiesitelmä
-
Impact of Copper on Light-Induced Degradation in Czochralski-Silicon PERC Solar Cells
Modanese, C. (Puhuja), Wagner, M. (Kontribuuttori), Wolny, F. (Kontribuuttori), Oehlke, A. (Kontribuuttori), Laine, H. (Kontribuuttori), Inglese, A. (Kontribuuttori), Vahlman, H. (Kontribuuttori), Yli-Koski, M. (Kontribuuttori) & Savin, H. (Kontribuuttori)
18 maalisk. 2018 → 21 maalisk. 2018Aktiviteetti: Konferenssiesitelmä
-
Increasing yield of cast-silicon ingots via Tabula Rasa anneal
Laine, H. (Puhuja), Vähänissi, V. (Kontribuuttori), Liu, Z. (Kontribuuttori), Pasanen, T. (Kontribuuttori), Haarahiltunen, A. (Kontribuuttori), Yli-Koski, M. (Kontribuuttori) & Savin, H. (Kontribuuttori)
4 huhtik. 2017Aktiviteetti: Konferenssiesitelmä
-
Modeling the size distribution of iron precipitates in phosphorus-implanted emitters
Laine, H. (Kontribuuttori), Vähänissi, V. (Kontribuuttori), Yli-Koski, M. (Kontribuuttori), Liu, Z. (Kontribuuttori) & Savin, H. (Kontribuuttori)
2014 → …Aktiviteetti: Konferenssiesitelmä
-
Detection of iron contamination in internally gettered p-type silicon wafers by lifetime measurements
Haarahiltunen, A. (Puhuja), Savin, H. (Kontribuuttori), Yli-Koski, M. (Kontribuuttori) & Sinkkonen, J. (Kontribuuttori)
2004Aktiviteetti: Konferenssiesitelmä