Henkilökohtainen profiili
Koulutus / tieteellinen pätevyys
Dipl.ins., sähkötekniikka
Myöntöpäivä: 19 kesäk. 2017
Tekn. kand., sähkötekniikka
Myöntöpäivä: 14 jouluk. 2015
Sormenjälki
Sukella tutkimusaiheisiin, joissa Joonas Leppänen on aktiivinen. Nämä aihemerkinnät ovat peräisin tämän henkilön teoksista. Yhdessä ne muodostavat ainutlaatuisen sormenjäljen.
- 1 Samanlaiset profiilit
Yhteistyöt ja huippututkimusalueet viimeisiltä viideltä vuodelta
Viimeisin maa-/aluetasolla toteutettu yhteistyö. Saat tarkempia lisätietoja pisteitä napauttamalla, tai
Tutkimustuotos
- 3 Article
-
Early detection of wire bond degradation in IGBT modules using on-chip junction temperature sensor
Leppanen, J., Hoffren, A., Leppanen, T., Kerttula, E., Liu, S., Vuorinen, V. & Paulasto-Kröckel, M., 2025, (Sähköinen julkaisu (e-pub) ennen painettua julkistusta) julkaisussa: IEEE Transactions on Power Electronics. 14 SivumääräTutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu
Open access -
Aluminium corrosion in power semiconductor devices
Leppänen, J., Ingman, J., Peters, J. H., Hanf, M., Ross, R., Koopmans, G., Jormanainen, J., Forsström, A., Ross, G., Kaminski, N. & Vuorinen, V., lokak. 2022, julkaisussa: Microelectronics Reliability. 137, 9 Sivumäärä, 114766.Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu
Open accessTiedosto13 Sitaatiot (Scopus)682 Lataukset (Pure) -
A humidity-induced novel failure mechanism in power semiconductor diodes
Leppänen, J., Ross, G., Vuorinen, V., Ingman, J., Jormanainen, J. & Paulasto-Kröckel, M., elok. 2021, julkaisussa: Microelectronics Reliability. 123, 7 Sivumäärä, 114207.Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu
Open accessTiedosto22 Sitaatiot (Scopus)934 Lataukset (Pure)