APL Materials

Tutkimustuotokset

  1. 2020
  2. Julkaistu

    Field-effect transistor based on surface negative refraction in Weyl nanowire

    Chen, G., Chen, W. & Zilberberg, O., 2020, julkaisussa : APL Materials. 8, 1, s. 1-6 6 Sivumäärä, 011102.

    Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

  3. 2019
  4. Julkaistu
  5. Julkaistu

    Pushing the limit of Cs incorporation into FAPbBr 3 perovskite to enhance solar cells performances

    Sutanto, A. A., Queloz, V. I. E., Garcia-Benito, I., Laasonen, K., Smit, B., Nazeeruddin, M. K., Syzgantseva, O. A. & Grancini, G., 1 huhtikuuta 2019, julkaisussa : APL Materials. 7, 4, 6 Sivumäärä, 041110.

    Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

  6. Julkaistu

    Direct observation of mono-vacancy and self-interstitial recovery in tungsten

    Heikinheimo, J., Mizohata, K., Räisänen, J., Ahlgren, T., Jalkanen, P., Lahtinen, A., Catarino, N., Alves, E. & Tuomisto, F., 1 helmikuuta 2019, julkaisussa : APL Materials. 7, 2, s. 1-7 021103.

    Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

  7. Julkaistu

    Structural, optical, and electrical properties of orthorhombic κ -(In x Ga 1-x ) 2 O 3 thin films

    Hassa, A., Von Wenckstern, H., Splith, D., Sturm, C., Kneiß, M., Prozheeva, V. & Grundmann, M., 1 helmikuuta 2019, julkaisussa : APL Materials. 7, 2, s. 1-9 022525.

    Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

  8. 2018
  9. Julkaistu

    Defects in h-BN tunnel barrier for local electrostatic probing of two dimensional materials

    Liu, Y., Tan, Z., Kumar, M., Abhilash, T. S., Liu, G. J. & Hakonen, P., 1 syyskuuta 2018, julkaisussa : APL Materials. 6, 9, s. 1-7 0911021.

    Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

  10. 2017
  11. Julkaistu

    Simple ALD process for ε-Fe2O3 thin films

    Tanskanen, A., Mustonen, O. & Karppinen, M., 1 toukokuuta 2017, julkaisussa : APL Materials. 5, 5, 056104.

    Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

  12. 2016
  13. Julkaistu

    Transparent ferrimagnetic semiconducting CuCr2O4 thin films by atomic layer deposition

    Tripathi, T. S., Yadav, C. S. & Karppinen, M., 1 huhtikuuta 2016, julkaisussa : APL Materials. 4, 4, 046106.

    Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

  14. 2014
  15. Julkaistu

    Reduction of the thermal conductivity in free-standing silicon nano-membranes investigated by non-invasive Raman thermometry

    Chávez-Ángel, E., Reparaz, J. S., Gomis-Bresco, J., Wagner, M. R., Cuffe, J., Graczykowski, B., Shchepetov, A., Jiang, H., Prunnila, M., Ahopelto, J., Alzina, F. & Sotomayor Torres, C. M., 2014, julkaisussa : APL Materials. 2, 1, s. 1-6 012113.

    Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

ID: 178011