Guthaus, M. (Vieraileva päätoimittaja), Kim, K. (Vieraileva päätoimittaja), Brito-Filho, F. (Vieraileva päätoimittaja), Kawakami, S. (Vieraileva päätoimittaja) & Murmann, B., 25 lokak. 2024, julkaisussa: IEEE Design and Test.
Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Special issue › Scientific › vertaisarvioitu