Siirry päänavigointiin
Siirry hakuun
Siirry pääsisältöön
Aalto-yliopiston tutkimusportaaliin Etusivu
ACRIS-ohjeet
English
Suomi
Etusivu
Profiilit
Julkaisut ja taiteelliset tuotokset
Tutkimusaineistot ja ohjelmistot
Projektit
Palkinnot
Aktiviteetit
Lehtileikkeet
Tutkimusinfrastruktuurit
Tutkimusyksiköt
Vaikuttavuudet
Haku asiantuntemuksen, nimen tai kytköksen perusteella
The Impact of Residual Stress on Resonating Piezoelectric Devices - XRD data
Glenn Ross
(Creator)
Electronics Integration and Reliability
Sähkötekniikan ja automaation laitos
Tietoaineisto
Yleiskatsaus
Description
Repository of XRD data from pMUT devices
Koska saatavilla
24 elok. 2020
Julkaisija
Mendeley Data
Dataset Licences
CC-BY-4.0
DOI-pysyväislinkki
10.17632/j4xtbtpt3p.1
Pääsy aineistoon
https://data.mendeley.com/datasets/j4xtbtpt3p
Siteeraa tätä
DataSetCite
Ross, G. (Creator) (
24 elok. 2020
). The Impact of Residual Stress on Resonating Piezoelectric Devices - XRD data. Mendeley Data.
10.17632/j4xtbtpt3p.1