Record-high UV response in implanted junctions through passivation of surface defects and minimisation of boron implantation damage
- Kexun Chen (Puhuja)
- Setälä, O. (Kontribuuttori)
- Radfar, B. (Kontribuuttori)
- Udo Kroth (Kontribuuttori)
- Vähänissi, V. (Kontribuuttori)
- Savin, H. (Kontribuuttori)
Aktiviteetti: Konferenssiesitelmä