Siirry päänavigointiin
Siirry hakuun
Siirry pääsisältöön
Aalto-yliopiston tutkimusportaaliin Etusivu
ACRIS-ohjeet
English
Suomi
Etusivu
Profiilit
Julkaisut ja taiteelliset tuotokset
Tutkimusaineistot ja ohjelmistot
Projektit
Palkinnot
Aktiviteetit
Lehtileikkeet
Tutkimusinfrastruktuurit
Tutkimusyksiköt
Vaikuttavuudet
Haku asiantuntemuksen, nimen tai kytköksen perusteella
Recent Progress in Thin Film Conformality Analysis with Microscopic Lateral High-aspect-ratio Test Structures
Puurunen, R.
(Puhuja)
Catalysis
Kemian tekniikan ja metallurgian laitos
Aktiviteetti
:
Kutsuttu akateeminen esitelmä
Aikajakso
22 lokak. 2019
Tapahtuman otsikko
AVS International Symposium and Exhibition
Tapahtuman tyyppi
Conference
Konferenssinumero
66
Sijainti
Columbus, Yhdysvallat, Ohio
Näytä kartalla
Tunnustuksen arvo
International
X