Recent Progress in Thin Film Conformality Analysis with Microscopic Lateral High-aspect-ratio Test Structures

Aktiviteetti: Kutsuttu akateeminen esitelmä

Aikajakso22 lokak. 2019
Tapahtuman otsikkoAVS International Symposium and Exhibition
Tapahtuman tyyppiConference
Konferenssinumero66
SijaintiColumbus, Yhdysvallat, OhioNäytä kartalla
Tunnustuksen arvoInternational