| Aikajakso | 23 syysk. 2019 |
|---|---|
| Tapahtuman otsikko | Conference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology |
| Tapahtuman tyyppi | Conference |
| Konferenssinumero | 18 |
| Sijainti | Zeuthen, SaksaNäytä kartalla |
| Tunnustuksen arvo | International |
Tähän liittyvä sisältö
-
Tutkimusinfrastruktuurit
-
OtaNano Nanofab
Laitteistot/tilat: Facility
-
Palkinnot
-
Young Scientist Award (GADEST)
Palkinto: Palkinto tai huomionosoitus tuotoksesta
-
Julkaisut ja taiteelliset tuotokset
-
Passivation of Detector‐Grade FZ‐Si with ALD‐Grown Aluminium Oxide
Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu
-
(oral talk) Passivation of Detector‐Grade FZ‐Si with ALD‐Grown Aluminium Oxide
Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Abstract › Scientific › vertaisarvioitu