OVERVIEW OF GROUND-BASED TESTING OF COMPONENTS MADE FROM ELECTRICALLY-CONDUCTING DOPED PEEK FOR SPACE APPLICATIONS

Aktiviteetti: Konferenssiesitelmä

Description

Oral presentation given in ECCM 20 conference.
Aikajakso26 kesäk. 2022
Tapahtuman otsikkoEUROPEAN CONFERENCE ON COMPOSITE MATERIALS
Tapahtuman tyyppiConference
Tunnustuksen arvoInternational