International Conference on Defects in Semiconductors

Aktiviteetti: Konferenssin tai seminaarin tieteellisen tai ohjelmatoimikunnan jäsenyys

Description

28th International Coinference for Defects in Semiconductors, Espoo, 27.-31.7.2015, Finland
Aikajakso2015
Tapahtuman tyyppiConference
Konferenssinumero28
SijaintiEspoo, SuomiNäytä kartalla