High resolution imaging of light-activated copper impurities in multicrystalline silicon wafers by photoluminescence

  • Chiara Modanese (Kontribuuttori)
  • Alessandro Inglese (Kontribuuttori)
  • Alessia Focareta (Kontribuuttori)
  • Florian Schindler (Kontribuuttori)
  • Jonas Schön (Kontribuuttori)
  • Martin C. Schubert (Kontribuuttori)
  • Savin, H. (Puhuja)

Aktiviteetti: Konferenssiesitelmä

Aikajakso24 toukok. 2017
Tapahtuman otsikkoEuropean Materials Research Society Spring Meeting
Tapahtuman tyyppiConference
SijaintiStrasbourg, RanskaNäytä kartalla
Tunnustuksen arvoInternational