Siirry päänavigointiin
Siirry hakuun
Siirry pääsisältöön
Aalto-yliopiston tutkimusportaaliin Etusivu
ACRIS-ohjeet
English
Suomi
Etusivu
Profiilit
Julkaisut ja taiteelliset tuotokset
Tutkimusaineistot ja ohjelmistot
Projektit
Palkinnot
Aktiviteetit
Lehtileikkeet
Tutkimusinfrastruktuurit
Tutkimusyksiköt
Vaikuttavuudet
Haku asiantuntemuksen, nimen tai kytköksen perusteella
Docent in Optical Metrology, Tampere Technical University, 1.8.2005
Kärhä, P.
(Jäsen)
Aktiviteetti
:
Akateeminen pätevyys (esim. dosentin arvo)
Aikajakso
1 elok. 2005
Pidetty
Tampere University of Technology
, Suomi