Dead-Layer-Free Semiconductor Detectors via Highly Charged Dielectrics

Aktiviteetti: Konferenssiesitelmä

Aikajakso	30 lokak. 2024
Tapahtuman otsikko	IEEE Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference, and Room-Temperature Semiconductor Detectors Symposium
Tapahtuman tyyppi	Conference
Sijainti	Tampa, Yhdysvallat, FloridaNäytä kartalla

Tähän liittyvä sisältö

Julkaisut ja taiteelliset tuotokset
(oral talk) Dead-Layer-Free Semiconductor Detectors via Highly Charged Dielectrics
Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Abstract › Scientific › vertaisarvioitu