Controlling SiO2 thin film charge and interface defect density on germanium
- Liu, H. (Puhuja)
- Toni Pasanen (Kontribuuttori)
- Leiviskä, O. (Kontribuuttori)
- Isometsä, J. (Kontribuuttori)
- John Fung (Kontribuuttori)
- Yli-Koski, M. (Kontribuuttori)
- Mikko Miettinen (Kontribuuttori)
- Pekka Laukkanen (Kontribuuttori)
- Vähänissi, V. (Kontribuuttori)
- Savin, H. (Kontribuuttori)
Aktiviteetti: Konferenssiesitelmä