Characterization of electrically active defefts in CZ-Si by photoluminescence imaging

Aktiviteetti: Konferenssiesitelmä

Aikajakso12 syysk. 2024
Tapahtuman otsikkoConference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology
Tapahtuman tyyppiConference
Konferenssinumero2024
SijaintiBad Schandau, SaksaNäytä kartalla