Siirry päänavigointiin
Siirry hakuun
Siirry pääsisältöön
Aalto-yliopiston tutkimusportaaliin Etusivu
ACRIS-ohjeet
English
Suomi
Etusivu
Profiilit
Julkaisut ja taiteelliset tuotokset
Tutkimusaineistot ja ohjelmistot
Projektit
Palkinnot
Aktiviteetit
Lehtileikkeet
Tutkimusinfrastruktuurit
Tutkimusyksiköt
Vaikuttavuudet
Haku asiantuntemuksen, nimen tai kytköksen perusteella
Characterization of electrically active defefts in CZ-Si by photoluminescence imaging
Savin, H.
(Kontribuuttori)
Elektroniikan ja nanotekniikan laitos
Electron Physics Group (EPG)
Aktiviteetti
:
Konferenssiesitelmä
Aikajakso
12 syysk. 2024
Tapahtuman otsikko
Conference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology
Tapahtuman tyyppi
Conference
Konferenssinumero
2024
Sijainti
Bad Schandau, Saksa
Näytä kartalla
X