Menetelmä ja järjestelmä kuvan laadun mittaamiseksi

Hannu Saarelma (Inventor), Pirkko Oittinen (Inventor)

Research output: Patent

Keywords

@misc{06438f4273a84b53b7f4fa61faa8cf0b,

title = "Menetelm{\"a} ja j{\"a}rjestelm{\"a} kuvan laadun mittaamiseksi",

keywords = "image quality, measurement, image quality, measurement, image quality, measurement",

author = "Hannu Saarelma and Pirkko Oittinen",

year = "2003",

language = "English",

type = "Patent",

note = "Suomi FI 111141 B (13.06.2003)",

}