EBSD (Electron Backscattered Diffraction).Ilmiö, käyttökohteet ja vaatimukset näytteenvalmistukselle

Tapio Saukkonen

EBSD (Electron Backscattered Diffraction).Ilmiö, käyttökohteet ja vaatimukset näytteenvalmistukselle

Tapio Saukkonen

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference contribution › Scientific › peer-review

Original language	English
Title of host publication	AEL - Pyyhkäisyelektronimikroskopia (SEM) ja mikroanalyysi (EDS), 20. - 22.11.2002, Helsinki
Pages	9
Publication status	Published - 2002
MoE publication type	A4 Article in a conference publication

Keywords

Electron Backscattered Diffractio
Scanning electron microscopy

Cite this

@inproceedings{a757668ac268455d8c302934b240325e,

title = "EBSD (Electron Backscattered Diffraction).Ilmi{\"o}, k{\"a}ytt{\"o}kohteet ja vaatimukset n{\"a}ytteenvalmistukselle",

keywords = "Electron Backscattered Diffractio, Scanning electron microscopy, Electron Backscattered Diffractio, Scanning electron microscopy, Electron Backscattered Diffractio, Scanning electron microscopy",

author = "Tapio Saukkonen",

year = "2002",

language = "English",

pages = "9",

booktitle = "AEL - Pyyhk{\"a}isyelektronimikroskopia (SEM) ja mikroanalyysi (EDS), 20. - 22.11.2002, Helsinki",

}

TY - GEN

T1 - EBSD (Electron Backscattered Diffraction).Ilmiö, käyttökohteet ja vaatimukset näytteenvalmistukselle

AU - Saukkonen, Tapio

PY - 2002

Y1 - 2002

KW - Electron Backscattered Diffractio

KW - Scanning electron microscopy

KW - Electron Backscattered Diffractio

KW - Scanning electron microscopy

KW - Electron Backscattered Diffractio

KW - Scanning electron microscopy

M3 - Conference contribution

SP - 9

BT - AEL - Pyyhkäisyelektronimikroskopia (SEM) ja mikroanalyysi (EDS), 20. - 22.11.2002, Helsinki

ER -