EBSD (Electron Backscattered Diffraction).Ilmiö, käyttökohteet ja vaatimukset näytteenvalmistukselle

Tapio Saukkonen

    Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contributionScientificpeer-review

    Original languageEnglish
    Title of host publicationAEL - Pyyhkäisyelektronimikroskopia (SEM) ja mikroanalyysi (EDS), 20. - 22.11.2002, Helsinki
    Pages9
    Publication statusPublished - 2002
    MoE publication typeA4 Article in a conference publication

    Keywords

    • Electron Backscattered Diffractio
    • Scanning electron microscopy

    Cite this